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卡片雙彎扭轉試驗機

更新時間:2025-04-02

簡要描述:

卡片雙彎扭轉試驗機用于檢測磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測試。

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卡片雙彎扭轉試驗機產品介紹:

本儀器針對性IC卡在國標GB/T 16649.1,國標GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標準等試驗標準中的彎曲、扭矩的試驗; *符合以上標準。

卡片雙彎扭轉試驗機產品技術參數(shù):

儀器重量:70kg

電 壓:AC220V±5%

功 率:35W

測試速度:彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz

試驗速度:20~60r/min

卡槽為:15個

測試周期:1~9999

扭曲度 :±15°±1° 雙向d=86 mm

正反向各15°,總扭曲角度30°

長邊zui大位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)

長邊zui小位移量為2mm±0.50mm,

短邊zui大位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)

長邊zui小位移量為1mm±0.50mm,

夾具安裝尺寸*按照國家標準執(zhí)行。

卡片雙彎扭轉試驗機產品用途:

用于檢測磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測試。

卡片雙彎扭轉試驗機使用方法?

(1) 儀器接通電源,將計數(shù)器,數(shù)值調到三個“0”,放上標準卡.
(2) 按扭曲啟動按扭(此時只有點功能),看搖擺指針是否在±15°之間作往復運
動.
(3) 按下彎曲啟動按扭,使彎曲卡位處于距離遠,看指針分別在某一刻度,或者用卡尺測量臺面到卡的高度,然后再按下彎曲啟動按扭,使得彎曲卡位處于距離近,看指針分別在另一刻度,或者用卡尺測量臺面到卡頂端高度,兩高度之差分別是10mm和20mm.

 

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